XRF-анализ, как правило, считается надежным и точным, часто достигая результатов, сравнимых с методами огневого пробирного анализа. Такая точность помогает предотвратить потери от приобретения недокаленных или поддельных материалов. На точность XRF-анализа влияет несколько факторов, включая чувствительность и стабильность приборов, методы подготовки проб и характеристики самой пробы.
Чувствительность и стабильность прибора:
Современные приборы XRF достигли такого уровня, что их чувствительность и стабильность больше не являются основными источниками ошибок. Эти приборы, оснащенные современными математическими алгоритмами и передовой электроникой, способны быстро и точно получать результаты в течение нескольких секунд. Это делает их идеальными для различных применений, включая контроль качества на предприятиях по обработке металлов и быструю идентификацию марок сплавов.Методы подготовки образцов:
Несмотря на развитие приборных технологий, на точность рентгенофлуоресцентного анализа может существенно повлиять качество пробоподготовки. Неправильная пробоподготовка может привести к неточным результатам. Процесс подготовки образца для рентгенофлуоресцентного анализа иногда может быть более трудоемким и дорогостоящим, чем сам анализ. Ключевыми моментами при подготовке пробы являются обеспечение репрезентативности исследуемого материала и подготовка пробы таким образом, чтобы не изменить ее элементный состав.
Характеристики образца:
XRF-анализ особенно чувствителен к характеристикам исследуемого образца. Например, рентгеновское излучение достигает пика на определенных длинах волн, соответствующих электронным переходам в атомах образца. Эти излучения накладываются на непрерывный фон рассеянного рентгеновского излучения от внешних электронов. Глубина, на которой обнаруживаются эти излучения (обычно в пределах 1-1000 мкм под поверхностью), может варьироваться в зависимости от атомного веса элементов в образце. Легкие элементы обнаружить сложнее, чем тяжелые.
Неразрушающий характер:
