Основное различие между методами рентгеновской флуоресценции (XRF) и рентгеновской дифракции (XRD) заключается в методе их работы и типе информации, которую они предоставляют о материале. Рентгенофлуоресцентный метод в основном используется для определения элементного состава материалов, а рентгеноструктурный - для характеристики кристаллической структуры материалов.
Метод XRF:
XRF работает путем облучения образца рентгеновскими лучами, что заставляет его испускать флуоресцентное излучение. Каждый элемент в образце дает уникальный спектр флуоресцентного излучения, что позволяет идентифицировать и количественно определить присутствующие элементы. Этот метод не разрушает и может анализировать сыпучие материалы, что делает его пригодным для широкого спектра применений, включая контроль качества металлических сплавов, анализ серы в бензине и обнаружение тяжелых металлов в пластмассах и электронике. Подготовка образцов для XRF часто включает в себя создание общих гранул образца с помощью гидравлического пресса для сохранения целостности образца.Техника XRD:
XRD, с другой стороны, использует рентгеновские лучи для анализа кристаллической структуры материалов. Он основан на законе Брэгга, который описывает, как рентгеновские лучи дифрагируют на атомных слоях в кристалле. Дифракционная картина, полученная с помощью рентгенографии, может быть использована для идентификации и определения характеристик соединений на основе их уникальных структурных свойств. XRD особенно полезен для изучения степени порядка или беспорядка в расположении атомов в материале. Для тонких пленок рентгенография может быть адаптирована для использования технологии падающего падения (GIXRD), которая делает метод чувствительным к поверхности, позволяя анализировать структуры нанометрового масштаба.
Резюме:
