TXRF (рентгеновская флуоресценция полного отражения) и EDXRF (энергодисперсионная рентгеновская флуоресценция) - оба аналитических метода, используемые для элементного анализа, но они отличаются настройками, чувствительностью и областями применения. TXRF - это специализированная форма EDXRF, которая работает в условиях полного отражения, что повышает ее чувствительность для обнаружения микроэлементов. EDXRF, с другой стороны, более универсален и широко используется в различных отраслях промышленности благодаря своей простоте и способности анализировать несколько элементов одновременно.
Ключевые моменты:
1.Основные принципы рентгенофлуоресцентного анализа
- Обзор рентгенофлуоресцентного анализа: Рентгеновская флуоресценция (XRF) - это неразрушающий аналитический метод, используемый для определения элементного состава материалов. Он работает путем облучения образца высокоэнергетическими фотонами (рентгеновскими лучами), что заставляет атомы в образце испускать вторичные рентгеновские лучи (флуоресценция), характерные для их элементов.
- Механизм обнаружения: Испускаемые рентгеновские лучи обнаруживаются и анализируются для идентификации и количественного определения элементов, присутствующих в образце. Это основано на принципе, что каждый элемент имеет уникальный набор энергетических уровней, что приводит к уникальным энергиям рентгеновского излучения.
2.Различия между TXRF и EDXRF
-
Экспериментальная установка:
- TXRF
- : Используется геометрия полного отражения, при которой падающий рентгеновский луч падает на образец под очень малым углом (близким к критическому углу полного отражения). Такая установка повышает чувствительность для обнаружения микроэлементов за счет минимизации фонового шума от подложки.EDXRF
-
: Обычно используется геометрия с прямым или скользящим углом. Рентгеновский луч падает на образец под большим углом, а система обнаружения может быть либо энергодисперсионной, либо дисперсионной по длине волны, в зависимости от типа используемого спектрометра.Чувствительность и пределы обнаружения
- :
- TXRF: Обладает более высокой чувствительностью и низкими пределами обнаружения, что делает его пригодным для анализа микроэлементов в очень малых объемах проб или сверхнизких концентрациях.
EDXRF: Как правило, имеет более высокие пределы обнаружения по сравнению с TXRF, но более универсален и прост в использовании для рутинного анализа широкого спектра образцов.
-
3.Области применения и преимущества
- Области применения TXRF.:
- Анализ следовых элементов
-
: Идеально подходит для обнаружения и количественного определения микроэлементов в образцах окружающей среды, биологических жидкостях и полупроводниковых материалах.Анализ поверхности
- : Благодаря настройке полного отражения, TXRF отлично подходит для анализа тонких пленок и поверхностных слоев.Применение EDXRF
- :
Анализ в широком диапазоне: Используется в различных отраслях промышленности, включая металлургию, геологию, экологию и материаловедение, для рутинного и комплексного элементного анализа.
-
Неразрушающий контроль: Как TXRF, так и EDXRF являются неразрушающими, что позволяет сохранить целостность образца во время анализа.
- 4.Практические соображения для покупателей лабораторного оборудования
- Выбор прибора:
-
TXRF
- : Выбирайте TXRF, если требуется высокая чувствительность для анализа микроэлементов и поверхности. Учитывайте необходимость специализированной установки и потенциально более высокую стоимость.
EDXRF
: Выбирайте EDXRF для элементного анализа общего назначения, когда на первый план выходят универсальность и простота использования. Учитывайте тип спектрометра (энергодисперсионный или волнодисперсионный) в зависимости от конкретных аналитических потребностей.
