Измерения толщины покрытия методом рентгенофлуоресцентного анализа обычно находятся в диапазоне от 1 нм до 50 пм.
Ниже 1 нм характерное рентгеновское излучение становится неотличимым от шума.
При толщине покрытия более 50 нм происходит насыщение, что препятствует проведению точных измерений.
Этот диапазон имеет решающее значение для обеспечения того, чтобы рентгеновские лучи, испускаемые внутренним слоем, могли проникать через покрытие и достигать детектора.
4 ключевых момента
1. Диапазон толщины XRF
Минимальная толщина обнаружения: Минимальная обнаруживаемая толщина для XRF составляет около 1 нм.
Ниже этого уровня характерные рентгеновские лучи погружаются в шумовой сигнал, что делает их нераспознаваемыми.
Максимальная толщина обнаружения: Максимальная измеряемая толщина составляет около 50 мкм.
При превышении этого значения толщина покрытия приводит к тому, что рентгеновские лучи, испускаемые внутренним слоем, не могут проникнуть сквозь покрытие и достичь детектора, что приводит к насыщению и неточным измерениям.
2. Коллиматор и размер пятна
Роль коллиматоров: Коллиматоры в рентгенофлуоресцентных анализаторах направляют рентгеновские лучи на образец и ограничивают размер пятна.
Они необходимы для поддержания точности измерений, поскольку обеспечивают взаимодействие рентгеновских лучей только с предполагаемой областью образца.
Выбор размера коллиматора: Для оптимизации точности в зависимости от размера образца предлагаются коллиматоры различных размеров.
При выборе коллиматора важно учитывать расходимость луча, так как это влияет на точность измерения.
3. Типы детекторов
Пропорциональные счетчики: В этих детекторах используется ионизированный инертный газ для получения сигнала, пропорционального поглощенной энергии.
Они надежны и широко используются в ранних анализаторах покрытий.
Кремниевые дрейфовые детекторы (SDD): SDD - это детекторы на основе полупроводников, которые генерируют заряд, связанный с количеством элементов в образце.
Они широко используются благодаря высокому разрешению и эффективности.
4. Типы приборов
Бенчтоп против ручного XRF: Настольные XRF-анализаторы подходят для измерения толстых покрытий и сложных многослойных приложений.
Ручные приборы более портативны и идеально подходят для проверок в процессе эксплуатации и при работе с крупными деталями.
Технологии "Апертура: Варианты включают механические коллиматоры и капиллярную оптику, выбираемые в зависимости от размера детали и толщины покрытия.
5. Неразрушающий анализ
Технология XRF: XRF - это неразрушающий метод, который измеряет флуоресцентные рентгеновские лучи, испускаемые образцом при возбуждении первичным источником рентгеновского излучения.
Этот метод позволяет определять толщину покрытия и подложки без повреждения образца.
Понимая эти ключевые моменты, покупатель лабораторного оборудования может принять обоснованное решение о выборе подходящей технологии XRF для своих конкретных нужд, обеспечивая точные и надежные измерения толщины покрытия.
Продолжайте изучение, обратитесь к нашим экспертам
Точные измерения толщины покрытия с помощьюпередовой технологии XRF компании KINTEK SOLUTION.
Наши передовые приборы обеспечивают непревзойденную точность измерений в диапазоне от 1 нм до 50 м благодаря прецизионным коллиматорам и детекторам высокого разрешения.
Изучите нашинастольные и портативные анализаторы и расширьте возможности своей лаборатории.
Готовы поднять свои измерения на новый уровень?Свяжитесь с нами прямо сейчас чтобы найти идеальное решение XRF для ваших нужд.
