Когда речь идет об анализе состава материалов, используются два распространенных метода - энергодисперсионная спектроскопия (EDS) и рентгеновская флуоресценция (XRF).
5 ключевых моментов для понимания
1. Применение и масштаб анализа
EDS используется для анализа состава на микроучастках.
Он часто используется в сочетании с электронными микроскопами для анализа очень маленьких областей, обычно в пределах 1 мкм.
2. Метод обнаружения
EDS работает путем бомбардировки образца электронными пучками в вакууме.
Это стимулирует испускание характерных рентгеновских лучей, которые могут быть использованы для идентификации и количественного определения элементов от B до U в периодической таблице.
3. Пределы обнаружения и точность
EDS особенно эффективен для качественного и полуколичественного анализа.
Предел обнаружения составляет 0,1-0,5 %, а количественная погрешность - около 2 % для элементов со средними атомными номерами.
4. Неразрушающий контроль
XRF - это метод неразрушающего контроля, используемый для объемного анализа материалов.
Он использует излучение для возбуждения атомов в образце, заставляя их испускать вторичные рентгеновские лучи, характерные для присутствующих элементов.5. Универсальность и применение в промышленностиРФА широко используется в различных областях, таких как материаловедение, геология и анализ окружающей среды.
Он позволяет получить практически полный химический состав без повреждения образца.
XRF можно разделить на энергодисперсионный XRF (ED-XRF) и волнодисперсионный XRF (WD-XRF), причем последний обеспечивает более высокое разрешение, но является более сложным и дорогим.
