Пределы обнаружения рентгенофлуоресцентного анализа (РФА) зависят от концентрации элемента в образце и других факторов. Как правило, пределы обнаружения большинства элементов находятся в диапазоне 2-20 нг/см2 для микрообразцов, тонких образцов, аэрозолей и жидкостей. Однако важно отметить, что пределы обнаружения могут варьироваться в зависимости от конкретной задачи и типа образца.
На процедуру рентгенофазового анализа могут влиять несколько факторов. Во-первых, рентгеновское излучение происходит на характерных длинах волн, соответствующих переходам электронов в атомах анализируемого образца. Эти пики излучения накладываются на непрерывный фон рентгеновского излучения, рассеиваемого слабо связанными внешними электронами. Интенсивность пиков излучения и фонового рассеяния зависит от размера частиц, минерального состава и плотности частиц образца.
Глубина, с которой исходят характерные рентгеновские лучи, также влияет на пределы обнаружения. Обычно это рентгеновское излучение испускается поверхностными атомами на глубине от 1 до 1000 мкм под поверхностью образца. Точная глубина зависит от атомного веса определяемого элемента. Легкие элементы обычно труднее обнаружить, чем тяжелые.
Подготовка пробы - еще один важный аспект рентгенофлуоресцентного анализа. Образцы могут быть подготовлены в виде жидкостей или твердых тел. Одним из распространенных методов является использование плавленых шариков, когда образец измельчается до размера частиц менее 75 мкм и смешивается с флюсом (обычно тетраборатом лития или смесью тетрабората и метабората). Смесь нагревается в платиновом тигле до высоких температур, потенциально до 1600 °C. Однако метод плавленых шариков может иметь ограничения при определении микроэлементов, поскольку образец необходимо разбавлять.
XRF-спектрометры обычно делятся на два типа: энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные спектрометры (ED-XRF) и длинноволновые дисперсионные рентгенофлуоресцентные спектрометры (WD-XRF). ED-XRF-спектрометры более просты и удобны в использовании, позволяют одновременно собирать сигналы от нескольких элементов. Их диапазон разрешения составляет от 150 до 600 эВ. С другой стороны, спектрометры WD-XRF собирают по одному сигналу под разными углами с помощью гониометра. Эти приборы более сложны и дороги, но обеспечивают более высокое разрешение в диапазоне от 5 до 20 эВ.
XRF находит широкое применение в таких отраслях, как производство цемента, металлических руд, минеральных руд, нефтегазовая промышленность, экологический и геологический анализ. Однако использовать технологию XRF может любая лаборатория, обладающая необходимым опытом.
Что касается оборудования для пробоподготовки, то здесь важно исключить загрязнение металлами. Для предотвращения загрязнения железом корпусов из нержавеющей стали можно использовать фильеры с футеровкой из карбида вольфрама. Имеются различные диаметры, причем меньшие диаметры обычно используются для ИК-Фурье анализа, а большие - для рентгенофлуоресцентного анализа.
Усовершенствуйте свою лабораторию с помощью передового рентгенофлуоресцентного оборудования KINTEK! Наша передовая технология обеспечивает непревзойденные пределы обнаружения в диапазоне 2-20 нг/см2, гарантируя точный анализ даже микрообразцов, тонких образцов, аэрозолей и жидкостей. Благодаря учету таких факторов, как атомный вес, размер частиц, минеральный состав и плотность частиц, наше оборудование гарантирует получение точных результатов. Максимизируйте свой исследовательский потенциал, измельчая образцы до мелких частиц и спрессовывая их в гладкие и плоские рентгенофлуоресцентные гранулы, уменьшая фоновое рассеяние и улучшая обнаружение эмиссии. Расширьте возможности своей лаборатории с помощью KINTEK уже сегодня!
