Знание Каковы пределы обнаружения для XRF? (Объяснение 7 ключевых факторов)
Аватар автора

Техническая команда · Kintek Solution

Обновлено 1 месяц назад

Каковы пределы обнаружения для XRF? (Объяснение 7 ключевых факторов)

Рентгеновская флуоресценция (XRF) - мощный аналитический метод, однако пределы обнаружения могут сильно варьироваться.

Эти пределы зависят от нескольких факторов, включая концентрацию элемента в образце и тип анализируемого образца.

Как правило, пределы обнаружения большинства элементов составляют 2-20 нг/см2 для микрообразцов, тонких проб, аэрозолей и жидкостей.

Однако важно отметить, что эти пределы могут меняться в зависимости от конкретного применения и типа образца.

7 ключевых факторов

Каковы пределы обнаружения для XRF? (Объяснение 7 ключевых факторов)

1. Рентгеновская эмиссия и фоновое рассеяние

Рентгеновское излучение происходит на характерных длинах волн, которые соответствуют электронным переходам в атомах анализируемого образца.

Пики эмиссии накладываются на непрерывный фон рентгеновского излучения, рассеиваемого слабо связанными внешними электронами.

Интенсивность пиков излучения и фонового рассеяния зависит от размера частиц, минерального состава и плотности частиц образца.

2. Глубина рентгеновского излучения

Глубина, с которой исходят характерные рентгеновские лучи, также влияет на пределы обнаружения.

Обычно эти рентгеновские лучи испускаются поверхностными атомами на глубине 1-1000 мкм под поверхностью образца.

Точная глубина зависит от атомного веса определяемого элемента.

Легкие элементы обычно труднее обнаружить, чем тяжелые.

3. Методы подготовки образцов

Подготовка образцов - еще один важный аспект рентгенофлуоресцентного анализа.

Образцы могут быть подготовлены в виде жидкостей или твердых веществ.

Одна из распространенных методик - использование плавленых шариков, когда образец измельчается до размера частиц менее 75 мкм и смешивается с флюсом (обычно тетраборатом лития или смесью тетрабората и метабората).

Смесь нагревается в платиновом тигле до высоких температур, потенциально до 1 600 °C.

Однако метод плавленых шариков может иметь ограничения в определении микроэлементов, поскольку образец необходимо разбавлять.

4. Типы рентгенофлуоресцентных спектрометров

XRF-спектрометры обычно делятся на два типа: Энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные спектрометры (ED-XRF) и волнодисперсионные рентгенофлуоресцентные спектрометры (WD-XRF).

ED-XRF-спектрометры более просты и удобны в использовании, позволяют одновременно собирать сигналы от нескольких элементов.

Их диапазон разрешения составляет от 150 эВ до 600 эВ.

С другой стороны, спектрометры WD-XRF собирают один сигнал за раз под разными углами с помощью гониометра.

Эти приборы более сложные и дорогие, но обеспечивают более высокое разрешение в диапазоне от 5 до 20 эВ.

5. Промышленные применения

XRF находит широкое применение в таких отраслях, как производство цемента, металлических руд, минеральных руд, нефти и газа, экологический и геологический анализ.

Однако любая лаборатория, обладающая необходимым опытом, может использовать технологию XRF.

6. Избежание загрязнения металлами

При выборе оборудования для пробоподготовки важно избегать загрязнения металлами.

Для предотвращения загрязнения железом корпусов из нержавеющей стали можно использовать фильеры с футеровкой из карбида вольфрама.

Имеются различные диаметры, причем меньшие диаметры обычно используются для инфракрасного анализа с преобразованием Фурье (FTIR), а большие - для XRF-анализа.

7. Передовое рентгенофлуоресцентное оборудование

Усовершенствуйте свою лабораторию с помощью передового рентгенофлуоресцентного оборудования KINTEK!

Наша передовая технология обеспечивает непревзойденные пределы обнаружения в диапазоне 2-20 нг/см2, гарантируя точный анализ даже микрообразцов, тонких образцов, аэрозолей и жидкостей.

Учитывая такие факторы, как атомный вес, размер частиц, минеральный состав и плотность частиц, наше оборудование гарантирует точные результаты.

Максимизируйте свой исследовательский потенциал, измельчая образцы до мелких частиц и спрессовывая их в гладкие и плоские гранулы XRF, уменьшая фоновое рассеяние и улучшая обнаружение эмиссии.

Расширьте возможности вашей лаборатории с помощью KINTEK уже сегодня!

Продолжайте исследовать, проконсультируйтесь с нашими специалистами

Готовы расширить возможности своей лаборатории?

Свяжитесь с нами сегодня, чтобы узнать больше о нашем передовом рентгенофлуоресцентном оборудовании и о том, как оно может помочь вашим исследованиям.

Наши специалисты помогут вам сориентироваться в этом процессе и сделать оптимальный выбор в соответствии с вашими потребностями.

Связанные товары

Держатель образца XRD / предметное стекло для порошка рентгеновского дифрактометра

Держатель образца XRD / предметное стекло для порошка рентгеновского дифрактометра

Порошковая рентгеновская дифракция (XRD) — это быстрый метод идентификации кристаллических материалов и определения размеров их элементарных ячеек.

Автоматическая лаборатория XRF и пресс-гранулятор KBR 30T / 40T / 60T

Автоматическая лаборатория XRF и пресс-гранулятор KBR 30T / 40T / 60T

Быстрая и простая подготовка гранул для рентгенофлуоресцентного анализа с помощью автоматического лабораторного гранулятора KinTek. Универсальные и точные результаты рентгенофлуоресцентного анализа.

XRD Рентгеновская дифракционная шлифовальная машина

XRD Рентгеновская дифракционная шлифовальная машина

KT-XRD180 - это миниатюрный настольный многофункциональный горизонтальный шлифовальный станок, специально разработанный для подготовки образцов для рентгенодифракционного анализа (РДГ).

Лаборатория стальных колец XRF и KBR Пресс-форма для порошковых гранул

Лаборатория стальных колец XRF и KBR Пресс-форма для порошковых гранул

Создавайте идеальные образцы XRF с помощью нашей пресс-формы для прессования гранул из лабораторного порошка со стальным кольцом. Быстрая скорость таблетирования и настраиваемые размеры для точного формования каждый раз.

Лаборатория пластиковых колец XRF и KBR Пресс-форма для порошковых гранул

Лаборатория пластиковых колец XRF и KBR Пресс-форма для порошковых гранул

Получите точные образцы XRF с нашей пресс-формой для гранул с пластиковым кольцом. Быстрая скорость таблетирования и настраиваемые размеры для идеального формования каждый раз.

XRF Boric Acid lab Пресс-форма для порошковых гранул

XRF Boric Acid lab Пресс-форма для порошковых гранул

Получите точные результаты с помощью нашей пресс-формы для прессования гранул порошка в лаборатории XRF Boric Acid. Идеально подходит для подготовки образцов для рентгенофлуоресцентной спектрометрии. Доступны нестандартные размеры.

подложка/окно из фторида бария (BaF2)

подложка/окно из фторида бария (BaF2)

BaF2 — самый быстрый сцинтиллятор, востребованный благодаря своим исключительным свойствам. Его окна и пластины ценны для ВУФ и инфракрасной спектроскопии.

Электрический гидравлический пресс для XRF и KBR 20T / 30T / 40T / 60T

Электрический гидравлический пресс для XRF и KBR 20T / 30T / 40T / 60T

Эффективно подготавливайте образцы с помощью электрического гидравлического пресса. Компактный и портативный, он идеально подходит для лабораторий и может работать в вакуумной среде.

Мишень для распыления железа высокой чистоты (Fe) / порошок / проволока / блок / гранула

Мишень для распыления железа высокой чистоты (Fe) / порошок / проволока / блок / гранула

Ищете доступные материалы железа (Fe) для лабораторного использования? Наш ассортимент продукции включает в себя мишени для распыления, материалы для покрытий, порошки и многое другое с различными спецификациями и размерами, адаптированными для удовлетворения ваших конкретных потребностей. Свяжитесь с нами сегодня!

Мишень для распыления фторида бария (BaF2) / порошок / проволока / блок / гранула

Мишень для распыления фторида бария (BaF2) / порошок / проволока / блок / гранула

Покупайте материалы на основе фторида бария (BaF2) по доступным ценам. Мы адаптируемся к вашим потребностям с помощью ряда мишеней для распыления, материалов для покрытий, порошков и многого другого. Заказать сейчас.

Кристаллическая подложка из фторида магния MgF2/окно/соляная пластина

Кристаллическая подложка из фторида магния MgF2/окно/соляная пластина

Фторид магния (MgF2) представляет собой тетрагональный кристалл, который проявляет анизотропию, поэтому крайне важно рассматривать его как монокристалл при работе с точным изображением и передачей сигнала.

Фторид стронция (SrF2) Распыляемая мишень/порошок/проволока/блок/гранулы

Фторид стронция (SrF2) Распыляемая мишень/порошок/проволока/блок/гранулы

Ищете материалы на основе фторида стронция (SrF2) для вашей лаборатории? Не смотрите дальше! Мы предлагаем различные размеры и степени чистоты, включая мишени для распыления, покрытия и многое другое. Заказывайте прямо сейчас по разумным ценам.

Высокоточный станок для резки алмазной проволокой

Высокоточный станок для резки алмазной проволокой

Высокоточный станок для резки алмазной проволокой — это универсальный и точный режущий инструмент, разработанный специально для исследователей материалов. В нем используется механизм непрерывной резки алмазным канатом, обеспечивающий точную резку хрупких материалов, таких как керамика, кристаллы, стекло, металлы, камни и различные другие материалы.

Верстак 800 мм * 800 мм, алмазный однопроволочный круглый небольшой режущий станок

Верстак 800 мм * 800 мм, алмазный однопроволочный круглый небольшой режущий станок

Станки для резки алмазной проволокой в основном используются для точной резки керамики, кристаллов, стекла, металлов, камней, термоэлектрических материалов, инфракрасных оптических материалов, композитных материалов, биомедицинских материалов и других образцов для анализа материалов. Особенно подходит для точной резки ультратонких пластин толщиной до 0,2 мм.


Оставьте ваше сообщение