Ограничения рентгенофлуоресцентного анализа (РФА) в основном связаны с подготовкой образцов и чувствительностью анализа по глубине. Хотя рентгенофлуоресцентный анализ является неразрушающим и относительно простым аналитическим методом, для получения точных результатов требуется тщательная пробоподготовка. Кроме того, глубина, на которой могут быть обнаружены элементы, зависит от атомного веса, что влияет на анализ более легких элементов.
Ограничения по подготовке образцов:
XRF-анализ сильно зависит от качества пробоподготовки. Как уже говорилось, наиболее распространенные проблемы в XRF-анализе связаны не с чувствительностью и стабильностью приборов, а с техникой подготовки. Например, при использовании XRF-гранулирования необходимо убедиться, что образец гомогенизирован в виде мелкого порошка и что гранула подготовлена с плоской и чистой поверхностью для измерения. Неправильная подготовка может привести к неточным результатам из-за изменений в элементном составе образца или вмешательства примесей.Ограничения чувствительности по глубине:
XRF обнаруживает элементы, анализируя характерные рентгеновские лучи, испускаемые поверхностными атомами на глубине, обычно составляющей 1-1000 мкм. Глубина обнаружения зависит от атомного веса элемента; более легкие элементы обнаружить сложнее, чем более тяжелые. Такая чувствительность к глубине может ограничить анализ некоторых элементов, особенно если они присутствуют в меньших концентрациях или имеют меньший атомный вес. Например, такие элементы, как литий, бериллий и бор, имеющие более низкие атомные номера, могут быть обнаружены не так эффективно, как более тяжелые элементы.
Заключение:
