Рентгенофлуоресцентный анализ (XRF) обычно проникает в образец на глубину от 1 до 1000 мкм. Глубина проникновения зависит от атомного веса элементов в образце; легкие элементы труднее обнаружить на больших глубинах по сравнению с тяжелыми элементами. Это связано с тем, что характерное рентгеновское излучение, испускаемое во время анализа, обычно обусловлено поверхностными атомами на этих глубинах. Способность обнаруживать элементы на разных глубинах имеет решающее значение для точного анализа, поскольку она влияет на сигнал, получаемый спектрометром XRF. Элементы с более высокой энергией, как правило, с более высокими атомными номерами, имеют большую глубину проникновения в образец, что означает, что они могут быть обнаружены в более глубоких слоях по сравнению с элементами с более низкой энергией. Такая чувствительность к глубине является ключевым фактором при подготовке и интерпретации результатов рентгенофлуоресцентного анализа.
Оцените непревзойденную чувствительность к глубине с помощью приборов для рентгенофлуоресцентного анализа KINTEK SOLUTION. Повысьте точность и эффективность работы вашей лаборатории, поскольку мы поставляем самое современное оборудование, предназначенное для определения элементов на различной глубине - от поверхности до керна. Доверьтесь KINTEK SOLUTION, чтобы предоставить инструменты, необходимые для точного и всестороннего XRF-анализа, гарантирующего раскрытие важных деталей ваших образцов. Узнайте, как наши передовые технологии могут изменить ваши аналитические возможности уже сегодня!
