Знание В чем заключается принцип измерения толщины методом РФА? Неразрушающая точность покрытий
Аватар автора

Техническая команда · Kintek Solution

Обновлено 3 недели назад

В чем заключается принцип измерения толщины методом РФА? Неразрушающая точность покрытий

Измерение толщины рентгеновской флуоресценции (РФА) основано на принципе рентгеновской флуоресценции, при котором образец облучается рентгеновскими лучами, в результате чего атомы в образце испускают вторичные рентгеновские лучи с определенными энергетическими характеристиками. Эти вторичные рентгеновские лучи обнаруживаются и анализируются для определения элементного состава и толщины образца. Интенсивность излучаемых рентгеновских лучей пропорциональна толщине покрытия или слоя, что позволяет проводить точные измерения.

Объяснение ключевых моментов:

В чем заключается принцип измерения толщины методом РФА? Неразрушающая точность покрытий
  1. Возбуждение атомов:

    • Когда образец подвергается воздействию первичных рентгеновских лучей, генерируемых рентгеновской трубкой, энергии этих рентгеновских лучей достаточно для выброса электронов внутренней оболочки (например, из K- или L-оболочек) из атомов в образце.
    • Это создает электронные вакансии во внутренних оболочках, которые затем заполняются электронами из оболочек с более высокой энергией. Во время этого перехода энергия выделяется в виде вторичного рентгеновского излучения, известного как рентгеновская флуоресценция.
  2. Элементно-специфическое рентгеновское излучение:

    • Энергия испускаемых вторичных рентгеновских лучей характерна для конкретного элемента, из которого они происходят. Каждый элемент имеет уникальный набор энергетических уровней, что приводит к уникальному спектру рентгеновской флуоресценции.
    • Обнаружив энергию этих вторичных рентгеновских лучей, прибор XRF может идентифицировать элементы, присутствующие в образце.
  3. Соотношение интенсивности и толщины:

    • Интенсивность излучаемой рентгеновской флуоресценции напрямую связана с количеством элемента, присутствующего в образце. При измерении толщины эта интенсивность пропорциональна толщине покрытия или слоя.
    • По мере увеличения толщины покрытия интенсивность испускаемых рентгеновских лучей увеличивается до определенной точки, после чего она может выйти на плато из-за эффектов насыщения.
  4. Обнаружение и анализ:

    • Прибор XRF обнаруживает энергию и интенсивность вторичных рентгеновских лучей с помощью детектора, такого как кремниевый дрейфовый детектор (SDD) или пропорциональный счетчик.
    • Обнаруженные сигналы затем обрабатываются программным обеспечением прибора, которое рассчитывает элементный состав и толщину на основе известной взаимосвязи между интенсивностью рентгеновского излучения и толщиной.
  5. Калибровка и точность:

    • Для обеспечения точных измерений толщины прибор XRF необходимо калибровать с использованием стандартов с известной толщиной и составом.
    • Калибровочные кривые создаются путем измерения интенсивности рентгеновской флуоресценции этих стандартов, что позволяет прибору коррелировать интенсивность с толщиной для неизвестных образцов.
  6. Применение рентгенофлуоресцентного измерения толщины:

    • Измерение толщины методом РФА широко используется в таких отраслях, как электроника, автомобилестроение и аэрокосмическая промышленность, для контроля и обеспечения качества.
    • Он особенно полезен для измерения толщины покрытий, таких как золото, серебро или никель, на различных подложках, чтобы гарантировать соответствие покрытий указанным стандартам.

Понимая эти принципы, можно понять, как технология РФА обеспечивает неразрушающий, точный и эффективный метод измерения толщины покрытий и слоев в различных материалах.

Сводная таблица:

Ключевой аспект Описание
Возбуждение атомов Первичные рентгеновские лучи выбрасывают электроны внутренней оболочки, создавая вакансии, заполняемые электронами с более высокой энергией, испуская вторичные рентгеновские лучи.
Элементно-специфическое излучение Испускаемые рентгеновские лучи имеют уникальные уровни энергии, позволяющие идентифицировать элементы в образце.
Интенсивность и толщина Интенсивность рентгеновского излучения пропорциональна толщине покрытия, что обеспечивает точные измерения.
Обнаружение и анализ Детекторы (например, SDD) измеряют энергию и интенсивность рентгеновских лучей, обрабатываемые программным обеспечением.
Калибровка и точность Калибровка по известным стандартам обеспечивает точные измерения толщины.
Приложения Используется в электронике, автомобилестроении и авиакосмической промышленности для контроля качества покрытий.

Узнайте, как рентгенофлуоресцентное измерение толщины может улучшить контроль качества. свяжитесь с нашими экспертами сегодня !

Связанные товары

Держатель образца XRD / предметное стекло для порошка рентгеновского дифрактометра

Держатель образца XRD / предметное стекло для порошка рентгеновского дифрактометра

Порошковая рентгеновская дифракция (XRD) — это быстрый метод идентификации кристаллических материалов и определения размеров их элементарных ячеек.

Автоматическая лаборатория XRF и пресс-гранулятор KBR 30T / 40T / 60T

Автоматическая лаборатория XRF и пресс-гранулятор KBR 30T / 40T / 60T

Быстрая и простая подготовка гранул для рентгенофлуоресцентного анализа с помощью автоматического лабораторного гранулятора KinTek. Универсальные и точные результаты рентгенофлуоресцентного анализа.

Лаборатория стальных колец XRF и KBR Пресс-форма для порошковых гранул

Лаборатория стальных колец XRF и KBR Пресс-форма для порошковых гранул

Создавайте идеальные образцы XRF с помощью нашей пресс-формы для прессования гранул из лабораторного порошка со стальным кольцом. Быстрая скорость таблетирования и настраиваемые размеры для точного формования каждый раз.

Лаборатория пластиковых колец XRF и KBR Пресс-форма для порошковых гранул

Лаборатория пластиковых колец XRF и KBR Пресс-форма для порошковых гранул

Получите точные образцы XRF с нашей пресс-формой для гранул с пластиковым кольцом. Быстрая скорость таблетирования и настраиваемые размеры для идеального формования каждый раз.

XRF Boric Acid lab Пресс-форма для порошковых гранул

XRF Boric Acid lab Пресс-форма для порошковых гранул

Получите точные результаты с помощью нашей пресс-формы для прессования гранул порошка в лаборатории XRF Boric Acid. Идеально подходит для подготовки образцов для рентгенофлуоресцентной спектрометрии. Доступны нестандартные размеры.

Лабораторный гидравлический пресс для гранул для лабораторных приложений XRF KBR FTIR

Лабораторный гидравлический пресс для гранул для лабораторных приложений XRF KBR FTIR

Эффективно подготовьте образцы с помощью электрического гидравлического пресса.Компактный и портативный, он идеально подходит для лабораторий и может работать в условиях вакуума.

подложка/окно из фторида бария (BaF2)

подложка/окно из фторида бария (BaF2)

BaF2 — самый быстрый сцинтиллятор, востребованный благодаря своим исключительным свойствам. Его окна и пластины ценны для ВУФ и инфракрасной спектроскопии.

Лабораторная инфракрасная пресс-форма без демонтажа

Лабораторная инфракрасная пресс-форма без демонтажа

Легко тестируйте свои образцы без необходимости извлечения из формы с помощью нашей лабораторной инфракрасной пресс-формы. Наслаждайтесь высоким коэффициентом пропускания и настраиваемыми размерами для вашего удобства.

Кристаллическая подложка из фторида магния MgF2/окно/соляная пластина

Кристаллическая подложка из фторида магния MgF2/окно/соляная пластина

Фторид магния (MgF2) представляет собой тетрагональный кристалл, который проявляет анизотропию, поэтому крайне важно рассматривать его как монокристалл при работе с точным изображением и передачей сигнала.

Верстак 800 мм * 800 мм алмазный однопроволочный круговой небольшой режущий станок

Верстак 800 мм * 800 мм алмазный однопроволочный круговой небольшой режущий станок

Станки для резки алмазной проволокой в основном используются для прецизионной резки керамики, кристаллов, стекла, металлов, горных пород, термоэлектрических материалов, инфракрасных оптических материалов, композитных материалов, биомедицинских материалов и других образцов для анализа материалов.Особенно подходит для прецизионной резки ультратонких пластин толщиной до 0,2 мм.


Оставьте ваше сообщение