Минимальный предел обнаружения для рентгенофлуоресцентного анализа (XRF) не является фиксированным числом. Он варьируется в зависимости от нескольких факторов.
7 ключевых факторов, влияющих на пределы обнаружения рентгенофлуоресцентного анализа
1. Концентрация элемента в образце
Концентрация элемента в образце имеет решающее значение. XRF может обнаруживать элементы в очень низких концентрациях, вплоть до 2-20 нанограмм на квадратный сантиметр (нг/см2).
2. Тип анализируемой пробы
Различные типы образцов имеют разные пределы обнаружения. Например, для образцов пищевых продуктов нижний предел обнаружения может составлять 2-4 тонны, в то время как для фармацевтической продукции может потребоваться более высокий предел - 20 тонн. Минеральные руды могут иметь еще более высокий предел - до 40 тонн.
3. Метод подготовки пробы
Метод подготовки пробы может повлиять на пределы обнаружения. Метод рентгенофлуоресцентного анализа с плавлеными шариками, при котором проба измельчается до мелких частиц и спрессовывается в гладкий гранулят, может улучшить обнаружение. Однако этот метод может не позволить обнаружить микроэлементы, поскольку образец необходимо разбавлять.
4. Атомный вес элемента
Атомный вес элемента играет определенную роль. Легкие элементы труднее обнаружить, чем тяжелые. Глубина обнаружения обычно составляет 1-1000 микрометров (мкм) под поверхностью образца.
5. Тип рентгенофлуоресцентного спектрометра
Тип используемого рентгенофлуоресцентного спектрометра также может влиять на пределы обнаружения. Энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные спектрометры (ED-XRF) просты и удобны в использовании, но могут иметь более низкое разрешение. Спектрометры с дисперсией по длине волны (WD-XRF) более сложные и дорогие, но обеспечивают более высокое разрешение.
6. Матрица образца
Матрица образца или другие элементы, присутствующие в образце, могут повлиять на предел обнаружения. Некоторые элементы могут мешать обнаружению других, что затрудняет получение точных результатов.
7. Калибровка прибора
Правильная калибровка прибора XRF очень важна. Неправильно откалиброванный прибор может привести к неточным пределам обнаружения, независимо от других факторов.
Продолжайте исследования, обратитесь к нашим специалистам
Ищете надежное лабораторное оборудование для улучшения результатов XRF-анализа? Обратите внимание на KINTEK! Наша первоклассная продукция, включаяплашки с футеровкой из карбида вольфрамапомогут вам достичь точных пределов обнаружения и избежать загрязнения металлами.Обновите свою лабораторию сегодня и улучшите свои исследования с помощью высококачественного оборудования KINTEK.Свяжитесь с нами прямо сейчас!
