Спектрометры XRF могут обнаруживать элементы от натрия (Na) до урана (U).
Эта способность обнаружения основана на взаимодействии рентгеновских лучей с образцом, что приводит к испусканию вторичных рентгеновских лучей, которые затем анализируются для определения элементного состава.
5 ключевых моментов
1. Принцип обнаружения
Спектрометры XRF работают, направляя рентгеновские лучи на образец.
Эти рентгеновские лучи взаимодействуют с атомами в образце, заставляя их испускать вторичные рентгеновские лучи, также известные как флуоресцентное излучение.
Каждый элемент испускает уникальную картину флуоресцентного излучения, которая регистрируется спектрометром.
2. Элементный диапазон
Диапазон элементов, обнаруживаемых методом XRF, простирается от натрия (атомный номер 11) до урана (атомный номер 92).
Такой широкий диапазон возможен потому, что каждый элемент имеет уникальный набор энергетических уровней для своих электронов.
Когда первичное рентгеновское излучение возбуждает электроны, они переходят на более высокие энергетические уровни, а когда они падают обратно, то испускают рентгеновские лучи с определенными энергиями, которые соответствуют присутствующим элементам.
3. Типы рентгенофлуоресцентных спектрометров
Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр (ED-XRF)
Эти спектрометры проще и могут одновременно собирать сигналы от нескольких элементов.
Их разрешение варьируется от 150 до 600 эВ.
Дисперсионный рентгенофлуоресцентный анализ по длине волны (WD-XRF)
Эти приборы более сложные и дорогие, но обеспечивают более высокое разрешение - от 5 до 20 эВ.
Они собирают один сигнал за раз под разными углами с помощью гониометра.
4. Области применения
XRF-спектрометры используются в различных областях, включая разведку полезных ископаемых, геохимическое тестирование, контроль содержания руды, анализ редкоземельных элементов и промышленных минералов.
Они особенно полезны для оценки элементного состава на месте в режиме реального времени, что имеет решающее значение для принятия решений в горнодобывающей и перерабатывающей промышленности.
5. Неразрушающий анализ
Одним из существенных преимуществ рентгенофлуоресцентного анализа является его способность проводить неразрушающий анализ.
Это означает, что небольшой объем образца или фрагмент сыпучего материала может быть проанализирован без нарушения целостности материала, что делает его идеальным для контроля качества и исследований в различных отраслях промышленности.
Продолжайте исследовать, проконсультируйтесь с нашими специалистами
Откройте для себя возможности спектрометров XRF вместе с KINTEK SOLUTION - вашим главным выбором для элементного анализа высокого разрешения.
Мы предлагаем самые современные системы ED-XRF и WD-XRF, обеспечивающие точность и неразрушающий контроль, от натрия до урана.
Расширьте возможности своей лаборатории и принимайте обоснованные решения с помощью нашей надежной, ведущей в отрасли технологии.
Свяжитесь с KINTEK SOLUTION сегодня и узнайте, как наши рентгенофлуоресцентные спектрометры могут изменить ваш анализ.
